การรักษาความร้อนของตัวเก็บประจุแบบเซรามิกหลายชั้น

คุณทราบหรือไม่ว่าตัวเก็บประจุแบบเซรามิกหลายชั้น (MLCC) ที่เก็บไว้ที่อุณหภูมิห้องในคลังสินค้าหรือสถานที่อื่นๆ อาจสูญเสียความจุ ทำให้ทดสอบเกินค่าความคลาดเคลื่อน บางครั้งพบสิ่งนี้ในชิปแคปขนาดกลางถึงใหญ่ เช่น 1005 ถึง 1812 แต่พบมากที่สุดในตัวเก็บประจุขนาดเล็ก เช่น 0201 และ 0402 ถึง 0805 โชคดีที่การรักษาความร้อนและ "การเบิร์นอิน" สามารถแก้ปัญหานี้ได้บ่อยครั้ง ปัญหาทั่วไป ในความเป็นจริง ผู้ผลิตหลายรายแนะนำให้รักษาความร้อนก่อนการทดสอบความจุล่วงหน้า

การรักษาความร้อนคืออะไร?

ตัวเก็บประจุมีแนวโน้มที่จะสูญเสียความจุเนื่องจากอายุการใช้งาน และตัวเก็บประจุเซรามิกหลายชั้นมีแนวโน้มที่จะเกิดปัญหานี้เป็นพิเศษ การอบชุบด้วยความร้อนจะรีเซ็ตกระบวนการชรา ทำให้โครงสร้างกลับคืนสู่การกำหนดค่าที่ไม่สอดคล้องกันที่เหมาะสมที่สุด และด้วยเหตุนี้ความจุสูงสุด สิ่งนี้ทำได้โดยการให้ความร้อนแก่ตัวเก็บประจุเหนืออุณหภูมิ Curie (ประมาณ 125 C) ซึ่งถูกกำหนดให้เป็นจุดที่มีการเปลี่ยนแปลงโครงสร้างผลึก

การเบิร์นอินหรือการใช้งานส่วนประกอบก่อนที่จะประกอบอย่างสมบูรณ์หรือแม้แต่ก่อนการประกอบ เพื่อจุดประสงค์ในการทดสอบความเครียดก่อนนำไปใช้งาน เป็นสิ่งที่ผู้ผลิตใช้กันมานานแล้ว พวกเขาพบว่าเมื่อความจุลดลงตามอายุ การใช้ความร้อนที่สูงกว่าอุณหภูมิของคูรี เช่น ระหว่างการบัดกรี จะสามารถกู้คืนได้ แน่นอน กระบวนการชราเริ่มต้นอีกครั้งเมื่อตัวเก็บประจุเย็นลงต่ำกว่าอุณหภูมิคูรี

คำแนะนำการรักษาความร้อนสำหรับ MLCC

ผู้ผลิตคาปาซิเตอร์แนะนำให้ MLCC ได้รับความร้อนก่อนใช้งาน โดยเฉพาะอย่างยิ่งหลังจากเก็บไว้เป็นเวลานาน เพื่อให้เกิดการเบิร์นอินที่จำเป็น ขั้นตอนง่ายๆ นี้จะช่วยให้แน่ใจว่าคาปาซิเตอร์อยู่ในเกณฑ์ที่ยอมรับได้ การรักษาความร้อนสามารถทำได้ทั้งก่อนหรือหลังการติดตั้งวงจรไฟฟ้า อย่างไรก็ตาม หากดำเนินการหลังการติดตั้ง จะต้องคำนึงถึงข้อกำหนดอุณหภูมิของส่วนประกอบอื่นๆ เพื่อหลีกเลี่ยงความเสียหาย

ขั้นตอนการรักษาความร้อนต้องการ:

ขั้นตอนที่ 1 - นำตัวเก็บประจุไปที่อุณหภูมิ 150 องศาเซลเซียส (300°F) +0°C/-10°C เป็นเวลา 1 ชั่วโมง

ขั้นตอนที่ 2 - ควรทิ้งตัวเก็บประจุไว้ในอุณหภูมิปกติเป็นเวลา 24 ชั่วโมง ±2 ชั่วโมงเพื่อให้เย็นลง

โปรดทราบว่าไม่จำเป็นต้องปฏิบัติตามขั้นตอนนี้กับ MLCC ทั้งหมด แต่ต้องทำเฉพาะขั้นตอนที่ทดสอบว่าเกินความคลาดเคลื่อน เมื่อขั้นตอนนี้เสร็จสิ้น ตัวเก็บประจุจะกลับสู่ระดับปกติและพร้อมสำหรับการทดสอบและใช้งาน

ที่มา: Quest